膜厚仪测量方法有哪些_测试原理

　　在铁基或铝基材料表面涂镀膜是一种重要的表面加工技术，膜的厚度直接影响其性能，故需对其进行有效的测量。常用的方法就是使用膜厚仪直接进行无损测试，本文就给大家带来膜厚仪原理及使用方法。

　　膜厚测量方法有哪些？

　　涡流膜厚测试仪，用于测量铝型材表面氧化膜或绝缘涂层厚度。这种膜厚仪轻便，操作简单，性能稳定，适用于铝型材膜厚现场检测，精度±3%。红外膜厚传感器专用于金属板带表面漆膜厚度连续检测。测量系统根据涂层的红外能量吸收原理和漆膜下的金属表面反射回的能量来测出膜厚。可测量铝容器，密封盖，饮料罐的涂层厚度，测量误差小于50mg/平方米。工厂预先校准功能可使测量系统方便而迅速地投入使用。磁性测厚仪主要利用电磁场磁阻原理，通过流入钢铁底材的磁通量大小，即磁体与磁性底材之间间隙的变化引起磁通量的变化来测定涂膜厚度。主要适用于铁、镍等磁性基材表面涂膜厚度测量。电阻法膜厚仪只适用于金属和半导体薄膜厚度的监控。除了以上无损地膜厚测量方法之外，还有金相显微镜法、触针法、湿膜厚度计等多种破坏性测试方法。

　　膜厚仪原理是什么？

　　不同膜厚仪测量原理是有区别的，其适用范围也会有差异。这里就给大家带来涡流膜厚仪工作原理。利用涡流法检测法，能够检测金属表面的氧化膜、漆膜或电镀膜等膜的厚度；但是，金属材料的性质不同，漆膜后检测也有很大不同。氧化层膜厚测定方法：假定某金属表面有氧化膜，则电感传感器与金属表面的距离为x；因为金属表面电涡流对传感器线圈中磁场的反作用，改变了传感器的电感量，设此时的电感量为（L0-ΔL）；当金属表面无氧化层时，传感器与其表面距离为x0，对应的电感量为L0，那么，该金属表面的氧化厚度应为（x0-x），该厚度就可通过电感量的变化测得。

　　测量基本方法

　　有的人又把膜厚仪称为膜厚测量仪，主要分为两种类型，一种类型是手持式与台式两种，手持式的膜厚测量仪又有好几种类型，比如说电涡流镀层测厚仪，荧光X射线镀层膜厚测量仪。手持式的测量仪采用的测量原理是利用探头经过非铁磁覆盖二流入铁磁基体磁通的大小。对于，膜厚仪很多人对它测量原理是非常感兴趣的，我们一起来了解一下它的测量原理。

　　我们已经学习了手持膜厚仪的测量原理，接着我们再来学习一下台式测厚仪的测量原理。一些技术人员告诉我们，台式的荧光X射线膜厚仪，是一种通过一次X射线穿透金属元素样品的而产生的低能量的光子，这种低能量的光子又被称为二次荧光。可以通过高级计算机对这种能量进行计算，这种能量计算出来的值可以对厚度进行一定的衡量。在膜厚仪中，比较流行的测量原理就是电涡流测量原理，我们一起来对电涡流测量原理进行比较详尽的学习，高频的交流信号一般会在侧头线圈中产生一定的电磁场，当测试的探头靠近导体的时候，就会在它的附加产生涡流。如果测试探头离导体的基体越近，它的涡流就会越大，反射阻抗肯定也会更大。事实上，这是一个反馈作用的过程，这个过程中表征了测试探头与导电基体之间距离的大小，换句话说，这就是导体导电基体上非导电覆层厚度的大小。

　　采用电涡流测试的原理，原则上需要对导体上的非导电体覆盖层均可以进行测量，技术人员告诉我们，覆层材料是有一定的导电性的，通过校准也是可以同时进行测量的，不过在这其中，有一个比较明显的要求就是两个的导电率最好是相差3到5倍左右。这就是跟朋友们介绍分享的膜厚仪一些测量基本原理，本文主要介绍了手持式膜厚测试仪的测量原理、台式膜厚测试仪的测量原理，及其在膜厚测试仪比较流行的测量原理，这种测量原理就是电涡流测量原理。在测量原理中，钢铁经常作为基体的导电体。

　　通用方法

　　（1）探头的选择和安装方法：确认电源处于OFF状态，与测定对象的质地材质接触，安装LEP-J或LHP-J。

　　（2）调整：确认测定对象已经被调整。未调整时要进行调整。

　　（3）测定：在探头的末端加一定的负荷，即使用[一点接触定压式]。抓住与测定部接近的部分，迅速在与测定面成垂直的角度按下。下述的测定，每次都要从探头的前端测定面开始离开10mm以上。使用管状的东西连续测定平面时，如果采用探头适配器，可以更加稳定地进行测定。